-
1 scan design circuit
схема, разработанная по одному из методов структурного проектирования контролепригодных устройств (напр., по методу LSSD)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > scan design circuit
-
2 partial-scan design
схема ( кристалл ИС) частичным сканированием ( экономичный способ обеспечения тестируемости); см. также full-scan design; register-transfer scan techniqueАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > partial-scan design
-
3 full-scan design
схема ( кристалл ИС) с полным сканированием ( способ обеспечения тестируемости); см. также partial-scan designАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > full-scan design
-
4 level sensitive scan design
Information technology: LSSDУниверсальный русско-английский словарь > level sensitive scan design
-
5 level sensitive scan design
метод сдвигового регистра, метод LSSD (метод контролепригодного проектирования, при котором все элементы памяти в режиме тестирования объединяются в сдвиговые регистры); см. также LSSDАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > level sensitive scan design
-
6 random access scan design
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > random access scan design
-
7 scan latch
защёлка сканирования (регистр в схеме, построенный по методу LSSD); см. level sensitive scan design; LSSDАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > scan latch
-
8 scan/set design
метод сканирования/установки (метод структурного проектирования контролепригодных устройств фирмы Sperry-Univac ( США)); см. также scan/set logicАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > scan/set design
-
9 scan/set logic
см. scan/set designАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > scan/set logic
-
10 scan path design
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > scan path design
-
11 register-transfer scan technique
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > register-transfer scan technique
-
12 проектирование с использованием метода сканирования
Русско-английский большой базовый словарь > проектирование с использованием метода сканирования
-
13 LSSD
level sensitive scan design — метод сдвигового регистра, метод LSSD; см. logic sensitive scan design -
14 метод сдвиговых регистров
Information technology: level sensitive scan design, level-sensitive scan design (для проектирования контролепригодных схем), scan-path techniqueУниверсальный русско-английский словарь > метод сдвиговых регистров
-
15 метод сквозного сдвигового регистра с опросом состояний элементов
Универсальный русско-английский словарь > метод сквозного сдвигового регистра с опросом состояний элементов
-
16 BILBO
built-in logic block observer — встроенный контроллер логического блока (метод контролепригодного проектирования, объединяющий методы сканирования путей, LSSD и сигнатурного анализа); см. logic sensitive scan design, scan path design, LSSD, SAАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > BILBO
-
17 метод сканирующего пути
Information technology: level-sensitive scan design, scan path approachУниверсальный русско-английский словарь > метод сканирующего пути
-
18 RAS
2. random access scan — метод сканирования с произвольным доступом (один из структурных методов контролепригодного проектирования, фирма Fujitsu, Япония); см. random access scan designReliability, Availability and Serviceability — надёжность, работоспособность и ремонтопригодность; см. также CAS-before RASreflecting acquisition state — отражающее состояние марковской цепи, моделирующей функционирование системы синхронизации -
19 метод сканирующего пути
1. scan path approach2. level-sensitive scan designРусско-английский большой базовый словарь > метод сканирующего пути
-
20 метод сдвинутых ресурсов
Русско-английский большой базовый словарь > метод сдвинутых ресурсов
См. также в других словарях:
Design for testing — Design for Test (aka Design for Testability or DFT ) is a name for design techniques that add certain testability features to a microelectronic hardware product design. The premise of the added features is that they make it easier to develop and… … Wikipedia
Design For Test — (aka Design for Testability or DFT ) is a name for design techniques that add certain testability features to a microelectronic hardware product design. The premise of the added features is that they make it easier to develop and apply… … Wikipedia
Scan chain — Scan chains are a technique used in Design For Test. The objective is to make testing easier by providing a simple way to set and observe every flip flop in an IC. A special signal called scan enable is added to a design. When this signal is… … Wikipedia
Design–build — Design build (or design/build, and abbreviated D–B or D/B accordingly) is a project delivery system used in the construction industry. It is a method to deliver a project in which the design and construction services are contracted by a single… … Wikipedia
Design closure — is the process by which a VLSI design is modified from its initial description to meet a growing list of design constraints and objectives. Every step in the IC design (such as static timing analysis, placement, routing, and so on) is already… … Wikipedia
Scan-Line Interleave — (SLI) from 3dfx is a method for linking two (or more) video cards or chips together to produce a single output. It is an application of parallel processing for computer graphics, meant to increase the processing power available for graphics. SLI… … Wikipedia
Boundary scan — is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub blocks inside an integrated circuit.The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the… … Wikipedia
Slit-scan photography — The slit scan photography technique is a photographic and cinematographic process where a moveable slide, into which a slit has been cut, is inserted between the camera and the subject to be photographed.Slit Scan is also the name of a media… … Wikipedia
Motorcycle design — can be described as activities that define the appearance, function and engineering of motorcycles. Professionally it is a branch of industrial design, similar to automotive design using identical techniques and methodology, but confined by a set … Wikipedia
Apple Industrial Design Group — The Apple Industrial Design Group (IDg) is the industrial design arm of Apple Inc. responsible for crafting the appearance of all Apple products, including the Apple Macintosh computer line. Contents 1 History 1.1 Fog Design 1.2 Reformation … Wikipedia
Intelligent-Design-Bewegung — Die Intelligent Design Bewegung ist eine Kampagne in den USA, die für weitreichende gesellschaftliche, akademische und politische Änderungen eintritt. Sie ist namentlich und inhaltlich von Intelligent Design abgeleitet, einer Form des Neo… … Deutsch Wikipedia
